首页> 中文期刊> 《大学物理实验》 >利用激光干涉测量透明薄片厚度

利用激光干涉测量透明薄片厚度

         

摘要

本文主要介绍利用激光干涉来测量透明薄片厚度的原理.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号