磁光晶体MCDS及MCBA的测量

摘要

本文介绍了用光学多道分析器(OSMA),测量磁光晶体的磁圆二向色谱(MCDS),及磁圆振双折射谱(MCBS)的工作,被测磁光晶体是(BiTm)_3-(FeGa)_5O_(12)磁光单晶薄膜。用斯托克斯参数原理测量,测得数据,用Lotus软件包处理。所得结果较为精确,且与目前已有的理论分析符合较好。