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基质辅助激光解吸-电离质谱在糖复合物分析中的应用进展

     

摘要

目的介绍基质辅助激光解吸/电离质谱在糖复合物分析中的应用,为糖复合物的分析提供参考.方法以国外大量有代表性的文献为基础,进行分析、整理和归纳.结果综述了基质辅助激光解吸/电离质谱在分析糖复合物时,常选用的基质,以及在不同类型糖复合物分析中的应用.基质辅助激光解吸/电离质谱在进行糖复合物分析时,选用合适的基质,可以直接确定糖复合物的分子量,避免了样品的衍生化.结合外源糖苷酶的降解,可以确定糖基连接方式和结构异构,并能对糖复合物进行定量.结论基质辅助激光解吸/电离质谱是一种快速、便捷的分析糖复合物的分析方法,已被广泛的用于糖复合物的结构分析.

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