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表面弯曲的古陶瓷样品X射线荧光无损定量分析

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摘要

常规X荧光分析中对样品表面有较高要求,这大大影响了利用X射线荧光法对古陶瓷无损分析的进行.本文提出了基本参数法和经验系数法中的两种较为简单的处理方法,以满足对不同大小和弯曲形状样品分析的需要.

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来源
《核技术》|2002年第7期|581-586|共6页
作者
何文权; 熊樱菲;
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作者单位

上海博物馆文物保护与考古实验室,上海,200231;

上海博物馆文物保护与考古实验室,上海,200231;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类射线与物质的相互作用;
关键词
XRF; 古陶瓷; 无损分析; 基本参数法;
入库时间 2023-07-25 14:47:22

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