基本参数法

摘要： 在进行能量色散X射线荧光(EDXRF)的解谱操作时,如果样品中元素含量不高,单个元素的谱峰形状在混合样品谱中会保持较好,纯元素谱剥离是一种比较好的解谱方法,同时,在不高的含量范围内,谱峰强度与元素含量的线性关系保持较好,定量较为准确;但在常量分析中,元素之间会存在较强的吸收增强效应,并导致混合样品谱中单个元素的贡献与其纯元素谱的形状不一致,因此,用固定形状的纯元素谱剥离方法就会有较大偏差.同时,吸收增强效应会干扰谱峰强度与元素含量的线性关系,两种因素的叠加,导致元素定量的不准确,因此,在进行常量分析时,简单的纯元素谱剥离的解谱方法并不适用.介绍了一种基于基本参数(F P)法的全谱拟合定量算法,在进行谱图准确拟合的同时,完成定量计算,其操作步骤如下:首先用纯元素谱剥离的方法得到实测的各谱线强度,并以此为依据预估样品中各元素含量,然后代入FP法计算样品中各谱线理论强度,根据与实测值的偏差调整元素含量,并做"FP计算-调整含量"两个过程的迭代,直至计算谱与实测谱的强度无差别;用最后的样品构成计算各元素谱峰形状,并修正纯元素谱,再次重复"剥离解谱-估算含量-迭代FP计算"的步骤,将最终得到的元素含量认为是测试结果.该种方法弥补了简单解谱剥离方法的弊端,借助于基本参数法的计算,纯元素谱峰得到了修正,解谱更准确,同时也能很好地校正基体效应对定量分析的影响.利用这种方法对较高浓度La/Ce/Pr/Nd混合溶液样品的EDXRF谱图进行分析,新方法计算得到的谱图与实测谱的残差σ降至474.5,远小于单纯使用纯元素谱剥离方法的1415.0[1].用该方法对多个配分含量范围从0～90％ 的稀土混合溶液进行检测,各样品各元素配分偏差均小于1％,多次连续测试表明,各元素的相对标准偏差RSD<1％,该方法的准确度和稳定性都较好,能很好地满足稀土冶炼行业生产实践的需求.

摘要： 采用X射线荧光光谱法测定了多种含钨合金钢以及含钨较高的镍基和钴基合金中钨的含量.方法 中选择钨的L β1线为分析线,并选择2θ角在39.50°处作为背景位置.在合金中钽的L β2线对钨分析线有重叠干扰,选两套标准样品用基本参数法(FP)测出了干扰系数k,将k值列入仪器的FP工作软件中来消除钽对钨测定的重叠干扰.用所提出的方法分析了钨质量分数在0.054％～11.71％内的5个标准样品,测定值与认定值相符,测定值的相对标准偏差(n=7)在0.55％～9.5％之间.

摘要： To analyze samples without using standard ,the energy dispersive X-ray fluo-rescence analysis (EDXRFA) of unknown samples was studied .The ratio R of coherent and incoherent scattering peaks of Kα in the original spectrum of target Rh was got through the measurement of Ti ,Fe ,Ni ,Cu ,Zn ,Sr ,Sn ,Pb single element standard samples , then the relationship between R and the effective atomic number of the corresponding single element standard samples was established ,and the fitting curve of Zef-R was obtained . When it comes to solve the unknown samples , measure the unknow n samples and get the R ,then the effective atomic number of the unknow n sam-ples was obtained by substituting the R of unknown samples into the Zef-R fitting curve ,and then the atomic number could be used in the fundamental parameters method iteration to calculate its mass attenuation coefficient .The Ti ,Fe ,Ni ,Cu ,Zn ,Sr ,Sn , Pb single element standard samples were again used to calibrate the instrument and ob-tain Gi parameter which was applied in the fundamental parameters method iteration of the corresponding element when it comes to solve the unknown samples .In order to verify the reliability of the algorithm , the 15 national soil standard samples were analyzed through the algorithm of this article .The results showed that the calculated content of Ti ,Fe ,Ni ,Cu ,Zn were close to the standard content ,and some low content element's content errors were a little larger because of the scattering background and other factors .The results showed that this algorithm could be used in the situ energy dispersive X-ray fluorescence analysis .%针对未知样品能量色散X射线荧光分析(energy dispersive X-ray fluorescence analysis,EDXRFA)方法开展无标样分析,通过测量Ti、Fe、Ni、Cu、Zn、Sr、Sn、Pb单元素标样,得到Rh靶材原级谱中Kα峰的相干与非相干散射峰强度比值R,并建立R与对应单元素标样有效原子序数的关系,得到Zef-R的拟合曲线.求解未知样品基体时,测量未知样,得到其R,将R代入Zef-R拟合曲线得到未知样有效原子序数,再通过基本参数法迭代计算其质量衰减系数.利用Ti、Fe、Ni、Cu、Zn、Sr、Sn、Pb单元素标样刻度仪器获取Gi参数,求解未知样品基体时用于相应元素的基本参数迭代.为验证算法可靠性,采用本算法分析15个国家土壤标准样品,结果表明,Ti、Fe、Ni、Cu、Zn元素的计算含量与标准含量接近,部分低含量元素受到散射本底等因素影响,含量误差较大.结果表明,该方法能够用于现场能量色散X射线荧光分析.

摘要： 应用整套标准样品法和基本参数(FP)法计算谱线重叠校正系数(K)效果较好.应用整套标准样品法需选用与被测样品具有相同基体和近似组成的标准样品;由于共存组分的谱线重叠的干扰常导致校正曲线产生较大的负截距,需通过多次迭代计算消除截距而使曲线通过原点,因为只有这样得到的K和M才是真值.实践中常有一些例子不能用整套标准样品法计算K值,例如钢中测定低含量铬时受到钒的重叠干扰问题.在此实例中除了钒对铬的谱线重叠干扰之外,还有仪器通道材料的干扰,此时,必须先用瑞利散射校正法消除此干扰后,选用铁基的标准样品,用FP法计算K值,可消除钒对铬的谱线重叠干扰.%It was shown that for determination of correction coefficients of spectral overlap (K),the method using sets of standard samples(Ⅰ) and the method of fundamental parameters (FP,Ⅱ) were suitable to be used.In applying method I,standard samples with same matrix and similar components of testing samples should be chosen,and spectral overlap often led to negative intercept in the calibration curve.To obtain true values of K and M,several times of iterative calculations were applied to eliminate the intercept and to make the calibration curve passing through the origin.Instances were encountered where method Ⅰ was not applicable.For examples,determination of values of K for elimination the interference of spectral overlap of Cr by V in determination of low contents of chromium in steels.In this case,besides the interference of overlap by V,interference due to the pathway material of the instrument was happened,and it was necessary to eliminate it first,and the correction by applying Rayleigh scattering was performed.Then the value of K was measured and calculated by the FP method using steel standard samples.The interference of spectral overlap of Cr by V was eliminated.

摘要： 我国稀土冶炼分离过程复杂,但多数稀土企业仍依靠实验室离线分析指导工艺,导致分析结果严重滞后,因此现迫切需要一种高效稳定的稀土在线分析方法.实验应用稀土配分在线分析仪,建立了一种在线测定稀土冶炼分离过程中Ho、Er、Tm、Yb配分含量的方法.将采样管置于串级萃取槽水相分隔室内,在蠕动泵作用下将样品输送至分析区域,通过X射线荧光光谱法(XRF)进行检测和数据记录.实验将XRF测试条件优化为电压40 kV、电流600μA、测试时间60 s,模拟现场工况条件下优化蠕动泵泵速为250 r/min,并采用基本参数法消除元素间吸收增强效应.样品11次测定结果的相对标准偏差(RSD)小于0.4％,实验室模拟及现场在线测试结果与电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)的离线分析结果吻合较好,测试结果滞后时间短,完全能够满足稀土冶炼分离过程工艺动态控制的测定需要.

摘要： 应用基本参数(FP)法虚拟合成标准样品制作了X射线荧光光谱法测定不同类型的铁基合金中的26种元素的通用工作曲线.选择最佳的仪器工作条件和合理的待测元素的分析线系,测定了9种元素、受共存元素重叠干扰的校正系数,用瑞利散射线扣除背景及通道材料的影响.在设定虚拟合成标准样品中各元素的含量,并算得在此设定值下的理论荧光强度后,用FP法计算各元素在其定值下的最终强度,从而完成了FP法工作曲线.应用此虚拟合成单标工作曲线对多种标准样品进行测定,证明该工作曲线可用于各种类型的铁基合金的分析.

摘要： 能量色散X射线荧光分析方法是目前常用的一种多元素分析方法，但该方法检出限和分析精度，受到分析基体的影响。基本参数法是目前一种常用的分析方法，但在使用过程必须获取净峰面积和基体所有成分，而在实际使用时，尤其在分析低含量样品时，净峰面积计算、基体中“暗物质”影响了测量精度，制约了基本参数法的应用。针对基本参数法的不足，将谱线解析方法与基本参数法融合，将重叠峰剥离过程嵌入基本参数法迭代过程中。在含量计算过程中，采用分析样品特征X射线分支比的理论系数，对重叠峰进行剥离，解决能量色散X射线荧光测量中净峰面积计算和定量分析问题；在计算过程中，对“暗物质”进行均一化处理。通过对标准物质测量分析，结果表明对于Ni ，Cu ，Zn三个元素改进型基本参数法（改进型FP）测量结果准确度高于影响系数法。%The X‐ray Fluorescence Analysis(XRFA) is an important and efficient method on the element anylsis and is used in geology ,industry and environment protection .But XRFA has a backdraw that the determination limit and accuracy are effected by the matrix of the sample .Now the fundamental parameter is usually used to calculate the content of elements in XRFA ,and it is an efficient method if the matrix and net area of characteristic X‐ray peak are obtained .But this is invalide in in‐stu XRFA . Also the method of net area and the “black material”of sample are the key point of the fundamental parameter method when the Energy Dispersive X‐ray Fluorescence Analysis (EDXRFA ) method is used in the low content sample .In this paper a advanced fundamental parameter method is discussed .The advanced fundamental parameter method includes the spectra analysis and the fundamental parameter method ,which inserts the overlapping peaks separation method into the iteration process of the funda‐mental parameter method .The advanced method can resolve the net area and the quantitative analysis .The advanced method is used to analyse the standard sample .Compare to the content obtained from the coefficient method ,the precision of Cu ,Ni and Zn is better than coeffieciency method .The result shows that the advanced method could improve the precision of the EDXRFA , so the advanced method is better than the coefficient method .

摘要： 选用YSBS15327-2008不锈钢标准样品，制作了4条工作曲线，用曲线进行了自测，还对作为未知样的标样进行了准确度和精密度测量。这4条工作曲线中有3条包含了基体效应校正，用实验结果讨论了不同基体效应校正的效果。

摘要： 本文首先介绍了Oil-Trace软件使用新的第三代基本参数法及计算原理，然后介绍其应用,用参考油样为未知样测试,评价方法的准确度.

摘要： 用Philips MagiX Pro型x射线荧光光谱仪,基本参数法,测定钢铁中的Al、Si、P、Ti、V、Cr、Mn、Co、W、Cu、Ni、Nb、Mo13个元素.方法准确可靠,稳定性好、速度快.曲线涵盖合金牌号手册中常用碳钢,中低合金钢,不锈钢,工具钢等90％以上的牌号.线性范围内实现无标定量分析.

摘要： 介绍了基本参数法在荧光光谱元素定量分析中的应用,并将该方法应用于嫦娥一号X有效载荷的地面验证实验中,对自制的多种样品进行了定量的分析.

摘要： 多道同时型X射线荧光光谱仪,以固定道作为主要分析方式.由于固定道的弯曲晶体可以具有分光和会聚两方面的功能,所以多道同时型X射线荧光光谱仪具有商品化仪器中最高的灵敏度,最佳稳定性和最快的分析速度.尤其适合在钢铁、有色金属和陶瓷水泥等工业生产领域的应用.近年来,随着材料工业的发展,特别在钢铁工业的新型钢种,包括时效硬化钢TRIP,洁净钢IF,和微合金化技术的广泛采用,对生产过程中快速、高精度的在线分析,提出了进一步的元素分析要求,甚至有时是过去认为苛刻级的要求.为此,多道同时型X射线荧光光谱仪可以更有效地发挥作用.本文简要论述背景基本参致法、标准基本参数法、推定基本参数法和定量基本参数法。

摘要： 本文以俄罗斯ΒИЛС公司研制的Al-Cu-Mg-Mn系列铝合金标准物质作为光谱标准，基体效应校正采用基本参数法,建立了X射线光谱测定2系列变形铝合金中Cu、Mn、Mg、Fe、Si、Zn、Ki、Cr、Ti，Zr共10种元素的方法。该方法分析实际样品，结果和化学法分析值相吻合。10次制样测量，各元素RSD在0．21%～3．30%(n=10)，分析结果更准确、稳定，可应用于日常批量样品的快速分析。

摘要： 对采用X射线荧光光谱法测定铜合金中的铜含量进行了研究，以沈阳有色金属加工厂研制的By1995系列铜合金标准物质作为光谱标样，采用基本参数法校正基体效应，建立了X射线荧光光谱测定铜合金中铜元素的方法。本方法分析样品的结果与化学法和原子吸收光谱法分析值相吻合，10次制样测量，RSD约0.12％。

摘要： X射线荧光光谱分析(XPF)以其分析范围宽、测量精度高、试样类型多样化、检测速度快等众多优点而广泛应用于材料学、生命科学、环境科学等众多学科领域，也同样适用于国际法庭科学领域。胶带是犯罪分子在作案时经常使用的捆绑作案工具，通常作为查找犯罪嫌疑人线索的重要物证之一，如何进行现场遗留胶带的种属鉴别是技术分析的疑难问题。波长色散型X射线荧光光谱仪常常用于金属材料的元素分析，对于高分子有机材料应用较少。本研究采用无标样定量分析软件对分析试样的种类、大小、形态等均无限制，利用基本参数法校正基体效应，可获得一般定量分析的结果，所以适用于未知塑料胶带中所含元素的检测，从而为确定不同种类、不同品牌的胶带提供了较好的分析方法。

摘要： 根据不锈钢样品特点,制定样品制备条件,应用X射线荧光光谱仪,通过消除光谱干扰和基体效应,将Cr-Fe,Cr-Fe-Ni,Ni-Cr-Mo-Cu等多元不锈钢相似基体拟合在一个分析程序中,主要采用基本参数法定量分析,用于测定铬不锈钢和镍铬不锈钢系列中多个元素。该方法用于在线分析,准确、及时,重现性好。

摘要： 在X射线荧光(XRF)分析中应用基于基本参数法的FP-Multi软件,采用C固定道和Ti、Al和Si扫描道,以99.999％石墨及纯Al、Ti及SiO2四个块样做标样,对玻璃基材上含有C元素的TiO2薄膜厚度及成分进行了测试分析.薄膜厚度的结果还与用nkd干涉仪、扫描电镜断面分析等方法的测试结果作比对.证明X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C+TiO2薄膜厚度及成分是可行的.

摘要： 以现场实际情况,制定样品制备条件,应用x射线荧光光谱仪,通过消除光谱干扰和基体效应,将Cr-Fe,Cr-Fe-Ni,Ni-Cr-Mo-Cu等多元不锈钢相似基体拟合在一个分析程序中,主要采用基本参数法定量分析,用于测定铬不锈钢和镍铬不锈钢系列中多个元素.该方法用于在线分析,准确、及时,重现性好.

摘要： 本发明涉及水轮机，提供了一种混流式水轮机基本参数估算的方法，对混流式水轮机基本参数进行估算。本发明需要估算的水轮机基本参数包括比转速ns、单位转速n11和单位流量Q11，本发明的方法为：确定待估算混流式水轮机的比转速，所述比转速记为ns；确定待估算混流式水轮机的最大应用水头，所述最大应用水头记为Hmax，并判断Hmax所处的范围；根据Hmax对应范围的估算公式估算基本参数，公式为：当Hmax≤100m时，当100m＜Hmax≤200m时，ns＝2191.5Hr‑0.5007，Q11＝1.0642Ln(ns)‑4.7812；当200m＜Hmax≤300m时，n11＝1.2874ns0.7878，Q11＝0.7821Ln(ns)‑3.3718；当Hmax＞300m时，ns＝3609.2Hr‑0.6189，n11＝37.207ns0.1186，Q11＝0.3652Ln(ns)‑1.4009。本发明适用于混流式水轮机，能够更好地满足新的水电工程要求。

摘要： 本发明公开了一种改进的基于土壤物理基本参数的导热系数模型设计方法，具体按照以下步骤实施：首先基于影响土壤导热系数λ的各物理基本参数，创建新模型；然后计算新模型中干土导热系数λ

摘要： 本发明公开了一种气门基本参数的检测方法、系统、设备及介质，涉及图像处理技术领域，该方法包括：获取包含气门的待检测图像；对所述待检测图像进行图像校正处理，得到目标图像；根据所述目标图像，确定气门的尺寸参数，所述尺寸参数包括气门直径和气门上的凹槽半径中的至少一项。本发明可以快速且精准的自动检测出气门尺寸参数，包括气门直径、气门上凹槽半径，具有鲁棒性和实时性，大大提高了气门检测效率，能极大地提高气门的生产效率；本方法能够在拍摄的图像存在干扰像素以及存在角度倾斜的情况下高精度的检测出气门基本参数，且本方法能应用到其他工业器件的基本参数检测中。

摘要： 本发明涉及一种渐开线圆柱斜齿轮齿廓基本参数测量提取方法，解决现有测量技术中存在的成本高、测量精度低、设备专业性强等问题。该方法通过三维扫描仪精确扫描齿轮实体，生成齿轮扫描模型。通过三维模型设计软件测量和计算得出未知参数齿轮齿廓的基本参数，实现未知参数齿轮失效后的快速互换。

摘要： 本发明提供一种运用大数据对定额成本的基本参数进行修正的方法及设备，包括以下步骤：1)根据收集的初始基础数据计算定额成本测算所需的定额测算数据，根据所述定额测算数据测算并设定初始定额成本；2)建立生产过程中的实际数据库；3)将所述实际数据库中的实际生产数据依照所述定额测算数据进行标准化处理，形成生产测算数据；4)将根据所述生产测算数据测算的实际生产成本与所述初始定额成本进行对比；5)判定异常数据后用反向推算对所述定额测算数据进行修正；6)根据修正后的所述定额测算数据设定修正后的定额成本。通过实际生产数据对比修正后的定额成本会更加有效。

摘要： 本发明提出基于遗传算法优化基本参数快速生成X荧光光谱的方法，涉及X射线荧光光谱学领域。本发明首先建立12～92号元素的最优仪器因子Gi′数据库，然后基于Sherman方程正向生成任意样品的各分析元素离散光谱，并通过高斯函数展宽为连续光谱，基于各分析元素对应的最优仪器因子Gi′，快速生成该样品的连续的X射线荧光光谱，其中，各分析元素最优仪器因子Gi′通过遗传算法优化基于仪器因子Gi的标准样品的连续光谱，使其与实测光谱均方预测误差小于0.2，此时所得各分析元素的仪器因子为最优仪器因子Gi′。本发明实现以秒级的速度生成多元素任意组成的样品光谱，以极小的时间成本构建具有大量数据的X射线荧光光谱信息。

摘要： 本实用新型涉及一种便携式土壤基本参数快速检测装置，包括土质检测仪以及与土质检测仪连接的连接杆，土质检测仪的内部开设有空腔，连接杆可拆卸插接于空腔内部，方便连接杆与土质检测仪之间的拆装，以便于携带，土质检测仪中内置检测模块、辅助模块以及蓄电池，连接杆的内部空心且底部安装有检测单元，检测模块与检测单元通过导线电连接，连接杆的底部设置有可拆卸的钻头空壳；本实用新型通过检测探头可拆卸的设置，使得该装置可以通过更换不同的检测探头用于检测多种指标，便捷省时，可以直接在现场对土质进行检测，避免了传统检测方式容易使土壤变质或被污染的现象发生，提高了测量结果的准确性。

摘要： 本实用新型公开了一种针对在用心电图机基本参数的便携式检测装置，包括存放箱体、箱盖、干燥底板和缓冲气囊，所述存放箱体为内部开设有存放仓的长方体箱状结构，且存放箱体的上端面通过活页配合有一组箱盖，所述存放箱体的一侧居中设置有一组提柄，所述存放箱体的底端四角设置有四组万向轮，且四组所述万向轮之间通过多组螺栓限位固定有一组干燥底板，所述存放箱体远离箱盖的一侧对称设置有两组供拉杆插接收纳的限位滑轨，干燥底板包括一组底板主体以及安装于底板主体内的风扇安装板和加热盘，风扇安装板呈矩形板状结构。该针对在用心电图机基本参数的便携式检测装置，结构合理，易于检测设备的收纳防护，具有较高的实用价值。

摘要： 本发明涉及一种虚拟合成标样的X射线荧光光谱基本参数法，属于X射线荧光光谱检测技术领域。将标准样品与基本参数法相结合，选择合适的工作条件，进行有效的谱线重叠校正和背景扣除等综合运用，得到各个元素的净强度值，再虚拟合成一个标准样品，建立一个用虚拟合成标准样品制作的基本参数法曲线，最终使用者采用几块标样即可建立同一基体材质的通用工作曲线，实现对同一基体的合金的成分准确检测，分析范围宽，基本参数法不受标准样品上下限的限制，不用购买大量标准样品，具有很大的经济效益。还可用于新材料的检测，满足高校研究所等研制新材料的检测，解决新材料无标准样品的问题。本方法在X射线荧光光谱仪检测领域具有广阔的应用前景。

摘要： 本发明涉及一种虚拟合成标样的X射线荧光光谱基本参数法，属于X射线荧光光谱检测技术领域。将标准样品与基本参数法相结合，选择合适的工作条件，进行有效的谱线重叠校正和背景扣除等综合运用，得到各个元素的净强度值，再虚拟合成一个标准样品，建立一个用虚拟合成标准样品制作的基本参数法曲线，最终使用者采用几块标样即可建立同一基体材质的通用工作曲线，实现对同一基体的合金的成分准确检测，分析范围宽，基本参数法不受标准样品上下限的限制，不用购买大量标准样品，具有很大的经济效益。还可用于新材料的检测，满足高校研究所等研制新材料的检测，解决新材料无标准样品的问题。本方法在X射线荧光光谱仪检测领域具有广阔的应用前景。