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邓志杰(摘译);
英特尔公司; 金属栅; 工艺; 电子器件; 加工流程; 高温退火; 华盛顿; 负责人;
机译:下一代半导体清洗技术:金属栅/高k栅堆叠MOSFET的制造工艺及其清洗技术
机译:使用低于90 nm CMOS技术节点的潜在低成本前端工艺原位制造金属栅/高k介电栅叠层
机译:低频噪声和随机电报噪声表征对退火工艺对高k /金属栅n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管陷阱性质的影响
机译:在先进的CMOS技术上集成高压MOSFET:结合逻辑内核工艺中的高k金属栅叠层,对厚栅氧化物进行表征
机译:用于45nm及以后工艺的氧化gate和硅酸ha栅氧化物的工艺开发,表征,瞬态松弛和可靠性研究。
机译:栅堆叠结构和工艺缺陷对32 nm工艺节点PMOSFET中NBTI可靠性的高k介电依赖性的影响
机译:降低高κ/金属栅堆叠表面制备工艺对环境的影响
机译:后栅等离子体和溅射工艺对金属栅CmOs集成电路辐射硬度的影响
机译:通过避免用于暴露占位材料的抛光工艺来实现高k金属栅叠层的替换栅方法
机译:高K /金属栅最后工艺的栅叠
机译:通过避免用于暴露占位材料的抛光工艺来实现高K金属栅堆叠的替换栅方法
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