基于可测试性技术的测试矩阵优化研究

摘要

可测试性技术在机载电路板中的应用使故障诊断问题得到快速发展,但是测试时间长,测试成本高.为了缩短测试时间,降低测试成本,基于MCSA算法、等权值抗误判算法、极小权值-极大相异性算法,融合改进的测试矩阵优化算法,使测试矩阵更加优化,测试向量数量减少.经实验验证,运用优化后的测试矩阵进行测试可以有效缩短测试时间,提高测试效率,降低测试成本.