基于可测试性技术的电路板测试系统研究

目录

声明

第一章 绪论

1.1 课题背景及研究意义

1.2 国内外研究现状

1.3 论文总体结构

第二章 基于可测试性技术的电路板测试系统总体规划

2.1 可测试性技术

2.2 系统总体结构

2.3 系统测试流程

2.4 测试系统硬件系统总体设计

2.5 本章小结

第三章 测试系统硬件系统的设计

3.1 IEEE 1149.1标准和IEEE 1149.7标准下的边界扫描测试技术

3.2 硬件系统中边界扫描控制器总体设计

3.3 边界扫描控制器的模块化设计

3.4 USB通信接口模块设计

3.5 硬件系统边界扫描控制器总体仿真

3.6 外围电路设计

3.7 本章小结

第四章 测试系统测试方法的研究

4.1 边界扫描测试算法的研究

4.2 被测电路板簇测试方法研究

4.3小结

结论

致谢

参考文献

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