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基于可测试性设计的测试综合技术初探

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摘要

本文从可测试性设计的角度出发,讨论了测试综合技术的必要性,以及测试综合的方法与步骤.

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来源
《计算机测量与控制》 |1999年第1期|34-36|共3页
作者
邱峰; 梁松海;
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作者单位

北京航天测控公司;

北京;

100830;

清华大学微电子所;

北京;

100084;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类自动化技术及设备;
关键词
可测试性设计; 测试综合; 边界扫描;

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