测试成本

摘要： 为了更方便快捷的对近地告警系统进行测试验证,减少测试成本和风险,提出了一种自动化的测试方法。首先介绍了自动化测试方法的设计需求;然后通过飞机仿真模型、接口模块和自动化测试环境,组成了近地告警设备的测试环境;最后对告警模式1进行了验证。验证结果表明,提出的方法可以应用到近地告警设备的测试中去。

摘要： 通过对现有测试模式电路的改进,阐述在测试模式下实现功能模式相同的低功耗场景,达到测量MCU芯片最低功耗的目的。该方法简单快捷,降低了对测试基台的要求,节省了测试时间。

摘要： 为了减少软件测试人员的工作量,降低软件测试成本,提高软件测试的质量和效率,提出了一种软件测试用例自动生成方法.该方法首先提取出被测软件系统中的各个接口参数,然后利用等价划分或者边界取值方法确定出每个接口参数的取值集合,最后将被测试软件中任意两个接口参数采用两两组合的方式进行测试率的覆盖.上述方法以最少的测试用例实现了对各个接口参数的各种组合最大限度的覆盖,不仅提高了设计和生成测试用例的效率,而且有效提升软件的测试效率,节省了软件测试成本并保证了软件测试的质量.

摘要： 为了减少软件测试人员的工作量,降低软件测试成本,提高软件测试的质量和效率,提出了一种软件测试用例自动生成方法。该方法首先提取出被测软件系统中的各个接口参数,然后利用等价划分或者边界取值方法确定出每个接口参数的取值集合,最后将被测试软件中任意两个接口参数采用两两组合的方式进行测试率的覆盖。上述方法以最少的测试用例实现了对各个接口参数的各种组合最大限度的覆盖,不仅提高了设计和生成测试用例的效率,而且有效提升软件的测试效率,节省了软件测试成本并保证了软件测试的质量。

摘要： 随着客户需求的复杂化及先进EDA工具的使用,MCU芯片向高复杂性、高集成度、高性能发展,电路规模越来越大,这使得MCU的可测性设计变得越来越困难.介绍了传统测试结构及其局限性,以及优化后的测试结构及其测试策略,实现了CKS32FOXX芯片的测试向量产生及整体测试.

摘要： 在集成电路测试过程中,随着测试时间的延长,会导致测试成本偏高.针对这种情况,提出一种基于随机森林的适应性测试方法.对于训练模型的芯片,通过计算基尼指数得出芯片参数测试过程中每个测试组对模型分类的重要程度,按照特征重要性对测试组进行重要度排序,筛选出特征重要性最高的测试组,并统计每个测试组测出的缺陷芯片数.对测试集中部分芯片进行测试,并通过删除部分测试组来减少测试时间,采用随机森林算法预测芯片质量,在保证预测准确率的基础上,尽量减少预测时间.实验结果表明:与KN N和逻辑回归算法相比,随机森林算法在预测准确率、测试逃逸水平和运行时间方面始终保持最优.与传统测试方法相比,随机森林算法在保证较低测试逃逸的情况下可以减少约28％的测试时间.与其他两种具有代表性的适应性测试方法相比,所提出的方法在测试时间方面表现更优.

摘要： 通过对现有测试模式电路的改进,阐述在测试模式下实现功能模式相同的低功耗场景,达到测量MCU芯片最低功耗的目的.该方法简单快捷,降低了对测试基台的要求,节省了测试时间.

摘要： 在三维(3D-SIC)芯片测试过程中,对其进行中间绑定测试,可提前检测出绑定过程中的缺陷,减少绑定失败率,但中间绑定测试会使测试时间与功耗的大幅度增加。针对3D-SIC绑定中测试成本过高问题,提出了一种新的绑定顺序优化,改变了传统的自下而上以及逐层绑定,提出了可以从任意层进行绑定。在测试带宽和测试功率的约束下,本文提出的基于贪心算法的绑定调度流程下,针对三种不同堆叠布局的芯片进行优化。实验结果表明,本文算法针对金字塔结构的三维芯片优化效果达到了40%以上,对菱形结构和倒金字塔结构的三维芯片也有一定的优化效果。

摘要： 随着天线技术研究的深入,天线测试技术也在快速发展。在上世纪40年代有关天线的基本测试方法和问题得到了解决;1950年,美国Antlab和Scientific Atlanta(S-A)两个公司已开发出应用在天线远场测量的设备和仪器;1960年,天线测试的理论基础快速提升,关于天线测试技术的文献大量涌现;1990年后,天线测试技术有了较快的发展,通过硬件的改进及软件的更新换代,使得天线测试在精度和效率上都有大幅度的改进,同时测试成本随着自动化的发展在不断的降低。

摘要： 可测试性技术在机载电路板中的应用使故障诊断问题得到快速发展,但是测试时间长,测试成本高.为了缩短测试时间,降低测试成本,基于MCSA算法、等权值抗误判算法、极小权值-极大相异性算法,融合改进的测试矩阵优化算法,使测试矩阵更加优化,测试向量数量减少.经实验验证,运用优化后的测试矩阵进行测试可以有效缩短测试时间,提高测试效率,降低测试成本.

摘要： 随着PCB日益向薄、小、高密度方向发展,PCB生产过程中对品质的要求变得越来越高。测试作为筛检出不良板,提高品质的重要手段,其在PCB制程中的重要性已逾发重要,测试成本所占比重日益增加。如何降低测试成本,提高测试效率,提升PCB的竞争力,己成为众多PCB生产商的重要课题。

摘要： 通过测试成本模型分析,芯片的测试时间是影响测试成本的重要因素之一,并行测试是降低测试成本的最有效的方法,但是在实际应用中若从测试机硬件结构和软件编程入手,也可以减少测试时间,降低测试成本.

摘要： 测试用例集约简的目的是在不降低原有用例集覆盖标准的前提下适当减少执行测试用例的数目，提高测试效率、降低测试成本。从需求分析入手，得到若干测试需求，基于这些测试需求可以生成一个测试用例集。利用测试需求与测试用例集间的关系构造了一种有效的测试用例集约简算法。最后证明了通过这种算法得到的精简测试用例集和原有测试用例集具有相同的故障检测能力。

摘要： 本文主要介绍了一种数字IP硬核的高频测试方案设计与实现,首先介绍了高频测试的方法和问题,然后分成三步分别介绍了本文提出的测试方案的片内设计,片外测试环境的设计,以及最后的实测过程和结果.经过多个IP核流片后测试,结果证明测试方案正确,实用,并且测试成本较低,过程简易,适用于通用数字IP硬核的功能和高频测试.具有较高的实用价值.

摘要： 为了保证PCB的可靠性，现今的测试成本由几年前的1％升到5％，而且随着PCB高密度技术发展，其测试成本的压力的加大，并且还将持续上升，如何降低PCB测试成本是摆在PCB厂家面前的共同课题.为此复合式治具在PCB业中越来越得到广泛的应用。

摘要： 高速(GS/s)的独立台式仪器和基于计算机的中速(MS/s)通用数据采集设备各有利弊:台式仪器测试准确、硬件不可变;通用数据采集设备灵活、但系统调整花费较多的时间且准确性难以保证.因此结合二者的优点设计一套智能化、通用的数据采集系统将显著降低测试成本并提高效率.在深入分析被测物理量及传感器输出信号特征后,选用模块化的商用产品建立硬件系统;当实验要求超出系统能力而更换信号调理模块时,软件系统可自动识别硬件变化并生成后续界面,用户不需要编写任何代码即可完成操作.系统适用于通常的多物理量、多通道数据采集领域尤其是科学研究实验中.

摘要： 介绍了故障预测与健康管理技术的一些基本知识、优越性及其与传统检测和维护方法之间的不同之处；对成本与可靠性之间的关系做了简单阐述。

摘要： 介绍了故障预测与健康管理技术的一些基本知识、优越性及其与传统检测和维护方法之间的不同之处；对成本与可靠性之间的关系做了简单阐述。

摘要： 介绍了故障预测与健康管理技术的一些基本知识、优越性及其与传统检测和维护方法之间的不同之处；对成本与可靠性之间的关系做了简单阐述。

摘要： 介绍了故障预测与健康管理技术的一些基本知识、优越性及其与传统检测和维护方法之间的不同之处；对成本与可靠性之间的关系做了简单阐述。

摘要： 本发明涉及一种低测试成本的金属引线框结构及其制造方法，属于半导体封装技术领域。它包括多个单元，每个单元均包括引脚，所述引脚包括第一金属层（1）和第二金属层（2），所述第二金属层（2）设置于第一金属层（1）正面，所述引脚与引脚之间填充有塑封料（4），所述第一金属层（1）背面和第二金属层（2）正面设置有第三金属层（3），相邻两个单元之间的引脚之间设置有沟槽（5），所述沟槽（5）将相邻两个单元之间的引脚隔断。本发明一种低测试成本的金属引线框结构及其制造方法，它可以带来全程可测试能力，极大地降低了测试成本，提高了质量和效率。

摘要： 本发明公开了一种降低GUI测试成本的逻辑组织方法，包括如下步骤：定义交互职责通用接口；定义通用GUI接口；识别具体的交互职责；定义具体GUI接口；实现具体交互职责；实现具体GUI；定义GUI和交互职责的装配；实现分发器；交互职责加载、装配。本发明使得交互逻辑做到高内聚，大大降低了GUI的测试成本，本发明具有高效、便捷、一致的特点，并且易于扩展。

摘要： 本发明提供了互连线测试结构及相应测试方法，以降低测试成本，该结构包括多个子测试结构，所述子测试结构包含由电阻互连线和电容互连线构成的comb meander结构，且所述电阻互连线两端均连接有子电阻测量端及测量开关，所述子电阻测量端及测量开关并联；其中各子测试结构位于不同金属层；各子测试结构中，电阻互连线两端的测量开关分别连接至两个主电阻测量端，以及各个位于奇数金属层的子测试结构的电容互连线连接至第一电容测量端，各个位于偶数金属层的子测试结构的电容互连线连接至第二电容测量端。

摘要： 本发明涉及性能测试领域，本发明旨在解决现有的云环境中性能测试成本较高的问题，提出一种用于降低云环境中性能测试成本的测试方法及系统，技术方案概括为：接收用户输入的网络信息，选择与所述网络信息对应的网络中的至少一个代理；接收用户输入的目标服务器信息，验证所述网络信息对应的网络中是否存在与目标服务器信息对应的服务器，若是，则将目标服务器信息传送到所选择的至少一个代理，否则，阻止对网络或服务器的访问。能够减少由于网络间流量和网络变化发生的不必要的成本，能够提供更精确的性能测试结果和系统稳定性，适用于云环境中的性能测试。

摘要： 本发明公开了一种低测试成本的退役动力电池分选方法，其步骤包括：1电压测量仪测量退役电池当前电压值作为各自的标记电压值；2将标记电压值划分为等长度的电压区间，按各电压区间将退役电池分组入库储存；3根据现有订单需求，取出退役电池进行相同电压起点的片段充放电测试；4采集测试数据，提取测试数据的特征；5利用聚类算法处理分析特征值，得出分选结果；6测试聚类中心电池具体，判断分类结果是否满足订单需求，若不满足则重复步骤3‑5。本发明能避免大批量退役电池的全充放电测试和减少冗余测试工作，从而能降低退役电池分选工作的时间成本和能耗成本。

摘要： 本发明涉及自动化测试领域，公开一种优化图像识别自动化测试成本的方法，该方法包括：将测试脚本部署到服务器，从客户端发送指令给服务器，服务器执行测试脚本并得到测试结果截图，从服务器获取测试结果原始像素数据，通过对比预期结果与实际结果的像素色彩的R、G、B分量的位数及像素矩阵得出测试通过与否的结论。本发明不需要占用客户端物理屏幕资源，客户端可以批量发送指令到多个服务器，在多个服务器上并发执行测试脚本，提高了自动化测试效率。

摘要： 本发明涉及一种低测试成本的金属引线框结构及其制造方法，属于半导体封装技术领域。它包括多个单元，每个单元均包括引脚，所述引脚包括第一金属层（1）和第二金属层（2），所述第二金属层（2）设置于第一金属层（1）正面，所述引脚与引脚之间填充有塑封料（4），所述第一金属层（1）背面和第二金属层（2）正面设置有第三金属层（3），相邻两个单元之间的引脚之间设置有沟槽（5），所述沟槽（5）将相邻两个单元之间的引脚隔断。本发明一种低测试成本的金属引线框结构及其制造方法，它可以带来全程可测试能力，极大地降低了测试成本，提高了质量和效率。

摘要： 本发明提供一种分析模块自动化测试成本的方法，其具体实现过程如下：判断模块核心性和脚本贡献量；根据步骤一得到的模块核心性和脚本贡献量，计算得出模块自动化收益，该模块自动化收益等于模块核心性*脚本贡献量；获取模块的代码行数和参数个数，计算得出模块自动化付出：脚本代码行数*每行代码的维护量+脚本中参数的个数*每个参数的维护量；比较模块自动化收益和模块自动化付出。该一种分析模块自动化测试成本的方法和现有技术相比，有效解决了现有自动化测试过程中的盲目性、高成本、低成功率的问题，通过将收益和付出进行比较，可快速准确的得出软件模块是否适合进行自动化测试，整个过程操作简单，实用性强。

摘要： 本发明公开了一种降低GUI测试成本的逻辑组织方法，包括如下步骤：定义交互职责通用接口；定义通用GUI接口；识别具体的交互职责；定义具体GUI接口；实现具体交互职责；实现具体GUI；定义GUI和交互职责的装配；实现分发器；交互职责加载、装配。本发明使得交互逻辑做到高内聚，大大降低了GUI的测试成本，本发明具有高效、便捷、一致的特点，并且易于扩展。

摘要： 本实用新型提供一种可降低测试成本的金属刀片针卡，包括第一探针、第二探针、第一金属刀片、第二金属刀片、印刷线路板和转接件，转接件上设置有第一金属条和第二金属条，第一探针通过第一金属刀片连接第一金属条，第二探针通过第二金属刀片连接第二金属条，印刷线路板与转接件连接从而分别电路连接第一金属条和第二金属条。较佳地，第一金属条和第二金属条成八字形设置。转接件为矩形板、等腰梯形板或三角翼形板。印刷线路板与转接件卡接并焊接连接。本实用新型的可降低测试成本的金属刀片针卡使得芯片测试的成本降低，设计巧妙，结构简洁，使用方便，适于大规模推广应用。