本文根据美国计算机设计与测试(Design＆Test of Computers)1993年第1、2期连载的“A Tutorial on Built—in Self—test”,并参照文献编译此简介。说明内建自测试(BIST)的原理与应用。上篇为原理,提出了有关BIST的问题与经济情况,并介绍了有关的层次化测试结构。说明了测试产生与响应分析的基本BIST概念。上篇还补充了线性反馈移位寄存器(LFSR)原理与应用的讨论。下篇将包括BIST硬件实现、应用与工具。为了使对数字系统的测试与诊断能够快速并有效地进行,一种合理的方法是把测试规定为一种系统功能即自测试(self—test)。数字系统包括分层次的部分:芯片、板、整机(cabinet)等等。在最高级可能包括整个系统,操作是由软件控制的,自测试时常是在软件中实现的。但一种纯软件自测试方法能够在系统级满足要求时,会有若干缺点。这样测试可能诊断分辨率差。此外,一种良好的软件式测试可能开发时间很长、很慢,而且费用大。一种越来越受到注意的方法是内建自测试——也就是在硬件本身中实现自测试:
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