内建自测试（BIST）简介

摘要

本文主要依据《A Tutorial onBuilt—in Self—test》Part Ⅱ:Applications,IEEE Design ＆ Test of Computers June 1993PP67—77编译。本文包括BIST硬件结构;应用和工具;描述对普通和结构逻辑的测试方法;并用实例说明BIST技术,描述支持BIST设计的硬件结构和软件工具。上篇已经介绍了BIST测试生成与响应分析概念,现在要讨论它们的实现。首先叙述普通逻辑的测试,然后简短讨论如ROM、RAM和PLA(可编程逻辑阵列)等结构逻辑的测试方法。这里测试生成器和响应分析器的结构几乎完全集中在LFSR和MISR(多输入特征寄存器)结构上。对于这些结构,扫描是设计的一个组成部分。还要指出ROM和计数器可能作为许多描述过的结构的补充或替换方案。