电子器件可靠性的噪声表征方法

摘要

随着电子器件朝着高性能、小尺寸和长寿命方向发展，传统的寿命试验可行性评价方法的局一日益显著。近年来得到的大量研究结果表明，对于大多数电子器件，噪声是导致器件失效的各种潜在缺陷的敏感反映，噪声检测方法以其灵敏、普适、快速和非破坏性的突出优点，正在发展成为一种新型的电子器件可靠性表征工具。本文对该领域目前的研究进展做了概括性的评述。