X射线荧光光谱法测定贵金属精矿中钌和铱

摘要

用XRF法测定贵金属一般都要经过预富集后才能进行测定.操作繁杂,给分析工作带来不便.本文提出一个以铝环一双层压片法制备样片,采用标准加入法直接测定贵金属精矿中钌和铱的X射线荧光光谱法.方法不需要制备标准样品、建立校正曲线和校正基体影响,分析结果与AAS和ICP-AES法相符,具有简单、快速、实用的特点.