首页> 中文期刊> 《机械制造与自动化》 >单片机在温度数据测试系统中的应用

单片机在温度数据测试系统中的应用

     

摘要

重点介绍由MCS-51单片机控制的温度测试系统的硬件结构,并在此基础上进行了软件设计.系统采用上位机和下位机组成的主从式结构,上位机采用组态软件,配合下位机的开发工作,下位机以MCS-51单片机为代表.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号