一种SEU／SET加固SAFF设计

摘要

Soft errors may be caused by Single Event Upset （ SEU ） and Single Event Transient effects （SET ） in digital logic circuits. This paper proposed an SAFF flip -flop circuit mitigating SEU/SET, which consists of a sense - amplifier based main stage, a four%单粒子翻转（SEU）和单粒子瞬态脉冲效应（SET）是引起数字逻辑电路发生错误的重要原因．针对SAFF触发器电路设计了一种抗SEU／SET加固电路，该电路由一个基于敏感放大器的主级，四个门保护电路组成的中间级和一个SR锁存器的从级组成．仿真结果表明该结构具有良好的抗SEU／SET性能．