Fault tolerance ; Integrated circuits ; Phase locked systems ; Voltage controlled oscillators ; Reliability engineering ; Circuit reliability ; Single event upsets ; Microelectronics ; Spacecraft electronic equipment;
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机译:使用光学锁相环的一组激光器的实验相对频率稳定度
机译:用于容错电路的SEU和SET故障注入模型
机译:0.13μmCMOS的耐辐射环形振荡器锁相环
机译:基于单轴磁力计信号锁相环的自旋弹弹侧倾角实时估计
机译:使用基于ESO的环路滤波器进行网格连接转换器的锁相环:性能分析