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余果; 徐辉; 施峰;
安徽理工大学电气与信息工程学院;
安徽淮南232001;
安徽理工大学计算机科学与工程学院;
软错误; 加固锁存器; 单粒子翻转; 低开销;
机译:经过SEU加固的CMOS数据锁存器设计
机译:基于SEU反转的SRAM单元的SEU强化布局设计
机译:低开销的SEU耐压锁存器
机译:用于基于延迟单元的VCO和频率合成器的低相位噪声,低时序抖动设计技术。
机译:基于网络传输模型的宏观流量仿真设计加固学习的设计
机译:基于带功率门控的比例锁存器的新型低泄漏功率触发器
机译:sa3300微处理器中的设计和电阻硬化D锁存器的sEU响应。
机译:基于受害者端口的设计可减少基于多端口锁存器的测试区域的开销
机译:基于磁滞的锁存器设计具有较低的面积/性能开销,可提高软错误率
机译:基于磁滞的锁存器设计可改善软错误率,并降低面积/性能开销
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