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邵志标; 何丕模;
不详;
高频; 界面态; 形变; 测量; MOS-CV法;
机译:噪声测量分析CVD-生长的单层MOS2的界面特性
机译:从锡/有机Pyronine-B / p型硅结构的高频和低频电容特性确定界面态的密度分布
机译:原位MOCVD沉积Si_3N_4的AlN / GaN金属绝缘体半导体场效应晶体管的色散,高频和功率特性
机译:MOS-HEMT特性的界面态陷阱密度研究
机译:CMOS中电气和生物学特性的先进高频测量技术
机译:MoS2 / MoOx界面的电子特性:隧道场效应晶体管和空穴接触的含义
机译:SiC / SiO2在基于N基的4H-SiC MOS电容器中的界面特性,用PECVD制造,没有退火工艺
机译:mOs结构界面态的动态特性
机译:高频CV特性测量方法及测量设备
机译:高频特性测量用探头的校准方法,使用探头的电子设备高频特性测量方法和高频测量用探头
机译:高频特性测量系统和测量天线等高频特性测试对象的特性的方法
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