一个专用芯片的边界扫描测试

摘要

JTAG边界扫描测试方法是电路芯片和电子系统功能测试一种新方法 ,正在得到越来越广泛的应用 .通过一个具体专用芯片的边界扫描测试的实现来介绍测试方法的基本原理 。