不同Zr/Ti比对Pb(ZrxTi1-x)O3陶瓷微观结构及性能的影响

摘要

采用固相烧结法制备了不同组分Pb(Zr1-xTix)O3(x=0.8、0.7、0.48、0.3、0.2)陶瓷.分别采用TG/DSC分析仪、X射线衍射仪、扫描电子显微镜和阻抗分析仪LCR分析了粉体的热分解温度;表征了PZT压电陶瓷的微观结构与形貌;并讨论了不同Zr/Ti比对PZT陶瓷的介电性能的影响.结果表明:Pb(Zr1-xTix)O3(x=0.8、0.7、0.48、0.3、0.2)陶瓷靶材在850℃预烧2 h后,得到了PZT主晶相成相明显的粉末.在1050℃烧结8 h得到了晶界清晰、晶粒尺寸分布较均匀、较致密、具有纯的钙钛矿结构的PZT陶瓷.不同Zr/Ti比对PZT陶瓷的微观结构和性能有重要影响,测试了不同组分PZT陶瓷在1 kHz处的介电常数值,得出当x=0.48时,PZT陶瓷介电常数表现最佳,介电损耗最小,ε=534,tanδ=0.04.