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吴绍敏;
华侨大学管理科学系;
韦伯分布; 寿命试验; 混合数据; 加速寿命试验;
机译:具有多重删失数据的反向Weibull分布的恒应力部分加速寿命试验
机译:具有Weibull分布并逐步进行II型删失的恒应力加速寿命试验的新推论
机译:基于Ⅰ型混合检查的对数位置尺度寿命分布的恒应力加速寿命试验的推论
机译:通过恒流应力加速寿命试验预测808nm大功率半导体激光器的寿命
机译:异构群效应加速寿命试验的数据分析和实验设计
机译:采用渐进式混合检查的逐步应力部分加速寿命试验中掩盖式混合系统寿命数据的统计分析
机译:威布尔分布下基于最小二乘法的白色有机发光二极管恒应力加速寿命试验
机译:恒载下石墨束寿命试验的实验程序
机译:试验数据分析系统和试验数据分析方法
机译:带有单一类型或混合类型的LED的多功能半导体恒光灯,在整个使用寿命内且在恒定的亮度下发出不同的光谱范围(也发出白光)
机译:高加速寿命试验产生二次振动高加速寿命试验产生二次振动,利用便携式球和多轴滑架导轨或
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