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沈海华; 卫文丽; 陈云霁;
中国科学院计算技术研究所微处理器技术研究中心,北京,100190;
中国科学院研究生院,北京,100049;
验证; VLSI; 随机测试生成; 覆盖率驱动的测试生成;
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