SoC测试访问机制和测试壳的蚁群联合优化

崔小乐; 程伟

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针对系统级芯片(SoC)测试壳优化和测试访问机制的测试总线划分问题,提出了基于蚁群算法的SoC Wrapper/TAM联合优化方法.构造蚁群算法时首先进行IP核的测试壳优化,用于缩短最长扫描链长度,减少单个IP核的测试时间;在此基础上进行TAM结构的蚁群优化,通过算法迭代逼近测试总线的最优划分,从而缩短SoC测试时间.对ITC2002基准SoC电路进行实验的结果表明,该方法能有效地解决SoC测试优化问题.

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来源
《计算机辅助设计与图形学学报》 |2009年第4期|461-466|共6页
作者
崔小乐; 程伟;
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作者单位

北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室,深圳,518055;

北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室,深圳,518055;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类大规模集成电路、超大规模集成电路;
关键词
测试壳; 蚁群算法; 测试访问机制; 系统芯片;

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