（Bi1—x（Sn0.5Pb0.5）x）2Sr2CaCu2Oy材料的X—ray衍射研究

摘要

以Ｘ射线物相分析主要手段，并结合正电子寿命谱和多普勒展宽谱和电阻测量，系统地研究了在不同的锡（铅）掺杂量下，Ｂｉ－２２１２超导相结构细节及电子态的变化。在低掺要时，Ｓｎ＾４＋优先占据Ｂｉ位，导致了载流子浓度的提高和层间耦合的加强，有利于超导转变温度的提高，随着掺杂浓度的提高，少量Ｓｎ将进入ＣｕＯ２层，致使其完整性被破坏；同时有更多的杂相析出，对材料的超导电性破坏作用。