一种嵌入式存储器的测试与修复方法

摘要

嵌入式存储器是SOC设计中最常用的核，其测试和修复功能可以大大提高芯片的良率。一种存储器行修复的内建自修复结构，包括BIST控制电路、BISA自分析电路和EFUSE可编程熔丝。通过项目实例证明了该结构的可行性。该结构减少了外部测试接口及测试成本，适用于其它SOC芯片设计。