暂态过电压预处理对氧化锌压敏电阻冲击性能的影响

摘要

针对氧化锌压敏电阻(Metal Oxide Varistor,MOV)芯片在实际工作环境中会遭受过电压作用问题,设计了暂态过电压预处理后MOV耐受冲击老化试验,研究了不同幅值工频交流暂态过电压5 s作用下MOV芯片耐冲击老化性能变化.试验结果表明:MOV芯片经暂态过电压预处理后压敏电压升高,耐8/20 μs电流波冲击次数增多;暂态过电压预处理后芯片冲击过程中压敏电压呈现下降-保持-下降过程,与未经预处理芯片压敏电压变化过程有所不同.结合双肖特基势垒导电机理推论出工频交流瞬时过电压作用下,氧化锌晶界两侧势垒高度变化过程,并经过试验数据分析证明此推论的合理性.为研究暂态过电压对MOV冲击性能影响及生产厂家预老化工艺的合理性提供试验依据.