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翟玉卫; 梁法国; 刘岩; 郑世棋;
中国电子科技集团公司第十三研究所,石家庄050051;
空间分辨率; 数值孔径; 温度检测; 半导体器件;
机译:空间辐射辐照对半导体器件的影响
机译:背向散射对半导体X射线探测器空间分辨率的影响
机译:使用扫描非线性介电显微镜对半导体器件和材料的精细结构进行高分辨率表征
机译:宇宙射线诱发的中子对半导体器件上半导体表面的影响:功率器件的燃尽现象
机译:等离子体,温度和化学反应对半导体器件多孔低介电膜的影响
机译:用于高空间分辨率MALDI成像MS的高斯光束激光和非球面光学器件的实现
机译:静态和动态条件下半导体功率器件上总电离剂量效应的研究。静态和动态条件下电离辐射总剂量对半导体功率器件的影响研究
机译:辐射对半导体表面损伤的理论和实验研究及其对半导体器件性能的影响最终报告,1964年3月1日 - 1968年8月31日
机译:表面发光半导体激光器,光学半导体器件,光学透射器件,光学空间透射装置,光学透射系统,光学空间透射系统以及制造表面发光半导体的方法
机译:机动车,工作保护室和其他受压空间中的有害物质传感器,具有类似的温度和空气湿度对半导体气体传感器影响的补偿
机译:使用氧氮化物膜和深紫外光刻在硅基板上以低至0.12μm的分辨率对半导体器件进行构图的方法
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