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邱华辰; 郝俊红; 任建勋;
清华大学工程力学系;
北京100084;
华北电力大学能源动力与机械工程学院;
北京102206;
半导体制冷; 热电效应; 传递过程; 数学模拟; 设计;
机译:选择因素对半导体器件热参数的影响
机译:针对半导体器件的布局和制造半导体器件的方法而颁发的专利
机译:量子约束对半导体导带最小值的影响
机译:宇宙射线诱发的中子对半导体器件上半导体表面的影响:功率器件的燃尽现象
机译:等离子体,温度和化学反应对半导体器件多孔低介电膜的影响
机译:具有石墨烯电极的蒽分子器件中增强的热电性能:声子热导的作用
机译:静态和动态条件下半导体功率器件上总电离剂量效应的研究。静态和动态条件下电离辐射总剂量对半导体功率器件的影响研究
机译:辐射对半导体表面损伤的理论和实验研究及其对半导体器件性能的影响最终报告,1964年3月1日 - 1968年8月31日
机译:陷阱分析建模系统,用于预测陷阱对半导体器件上的影响,以及其操作方法
机译:通过使用双层膜减轻紫外线和电子束曝光对半导体器件膜性能的影响的方法
机译:减少布局可印刷性对半导体器件性能的影响的方法
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