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苏吉儒;
无;
机译:基于高温载流子浓度确定Hg1-xCdxTe的带隙参数
机译:Hg1-x Cd-x Te-CdTe异质结构中-Hg1-x Cd-x Te带隙的光致发光和界面通道
机译:高载流子浓度对Ga_xIn_(1-x)N的弯曲参数和带隙温度依赖性的影响
机译:确定固体静态晶体的带隙的材料参数
机译:高温SOI CMOS带隙基准电压源
机译:真实带隙超材料中非局部性的第一个证据:在松弛微晶模型中确定参数
机译:高载流子浓度对GaxIn1-xN的弯曲参数和带隙温度依赖性的影响
机译:低带隙,单片,多带隙,光电器件。
机译:带隙和载流子浓度梯度的光电转换装置
机译:确定非晶态材料的带隙的方法,用于确定例如技术应用中晶体固体的化学键,涉及基于频率评估非晶材料的带隙温度
机译:电磁带隙装置,在天线装置中使用的电磁带隙装置以及确定天线装置参数的方法
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