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李佩赞; 吴志明;
不详;
光热辐射测量; 多层样品; 振幅; 红外探测;
机译:X射线反射法的应用 - 薄膜和多层膜掩埋层/界面密度,膜厚度和粗糙度的测定 -
机译:非接触测量介电板和壳体的厚度和介电参数
机译:非接触测量介电材料的密度和厚度变化
机译:通过GC-O和GC-MS分析对样品顶空的提取物和PTR-MS分析的综合性接近样品和PTR-MS的分析
机译:根据PTR-MS测量的材料排放特征和空气样品,开发一种用于识别室内环境中VOC排放源的新方法。
机译:利用光学相干层析成像技术对蛋壳厚度进行无损非接触测量
机译:使用厚度和厚度确定X射线反射测量中的样品对准 Gaas / alas多层认证参考材料的密度
机译:分析了多层反射器材料的样品和带有氧化物涂层的金属样品,这些样品在LDEF测试中暴露在空间环境中
机译:X射线荧光光谱仪,用于测量从样品发出的二次X射线的强度,计算二次X射线的理论强度,并据此计算各层的厚度或浓度精度
机译:等效转换厚度理论计算多层地基的应力,断裂与允许应力强度
机译:通过与理论签名的参考库比较来测量多层薄膜堆叠中的薄膜厚度的方法和设备
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