不同厚度像素CdZnTe探测器的性能测试和评估

沈敏; 肖沙里; 张流强; 曹玉琳; 陈宇晓

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不同厚度像素CdZnTe探测器的性能测试和评估

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碲锌镉材料(CdZnTe)是目前探测X射线和γ射线的最好材料之一.将241Am和137Cs辐射源作用于像素CdZnTe探测器,通过实验和仿真分别得到能量谱估计、能量分辨率和峰值效率.由实验和仿真结果得出:在662 keV的高能量下,厚度较大的CdZnTe探测器可获得更高的能量分辨率和峰值效率,但在59.5keV低能处会出现拖尾升高和电荷损失的现象;厚度较薄的探测器在低能处的特性反而更好.

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来源
《强激光与粒子束》 |2014年第3期|204-209|共6页
作者
沈敏; 肖沙里; 张流强; 曹玉琳; 陈宇晓;
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作者单位

重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室,重庆400030;

重庆工商职业学院,重庆合川401520;

重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室,重庆400030;

重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室,重庆400030;

中国工程物理研究院电子工程研究所,四川绵阳621900;

中国工程物理研究院电子工程研究所,四川绵阳621900;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类谱仪;
关键词
碲锌镉; 探测器; 能量谱; 能量分辨率; 峰值效率;

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