X射线荧光光谱法快速分析地质样品中各组分含量

摘要

采用塑料环粉末压片法制样,利用X射线荧光光谱分析地质化探样品中的主次量元素及痕量元素,通过对岩石的岩性、组分及异常元素的了解,为定量分析选择合适的条件.实验结果说明该法简便快速,精密度和准确度好,可应用于实际生产中.