单晶结构残余应力的X射线衍射分析技术

摘要

准确测定单晶材料残余应力是控制和调整单晶构件中残余应力的前提.基于弹性力学对单晶材料弹性模量与对应衍射晶面的关系进行理论分析,建立立方单晶材料的残余应力分析模型,并提出具体试验方法,以DD3单晶叶片为例,进行试验验证.结果表明:不同衍射晶面的弹性模量受独立弹性柔度系数、取向系数影响,DD3单晶叶片表面应力模型计算值与实测值间相对误差在20 MPa范围内.这种X射线衍射残余应力测定方法测定的残余应力值可靠性较高,为工程应用中测定立方单晶残余应力提供了理论依据和试验基础.