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X射线衍射技术在薄膜残余应力测量中的应用

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摘要

残余应力测量在薄膜材料研究中具有重要的意义,综述了薄膜残余应力X射线衍射技术测量的研究现状,其中介绍了强织构薄膜残余应力X射线衍射测量技术;同时对由于G(o)bel平行光镜、毛细管元件及二维探测器等X射线功能附件的发展,以及同步辐射源X射线的应用而带来残余应力分析的新进展进行了介绍.

著录项

来源
《功能材料》|2007年第11期|1745-1749|共5页
作者
杨帆; 蒋维栋; 蒋建清;
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作者单位

东南大学,材料科学与工程学院,江苏,南京,211189;

哈尔滨工业大学,材料科学与工程学院,黑龙江,哈尔滨,150001;

哈尔滨工业大学,材料科学与工程学院,黑龙江,哈尔滨,150001;

东南大学,材料科学与工程学院,江苏,南京,211189;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类Ｘ射线分析;
关键词
残余应力; 平行光镜; 毛细管; 同步辐射源X射线; 二维探测器;
入库时间 2022-08-17 16:30:47

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