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片上DAC在ATE上的测试

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摘要

描述IC量产测试中的一些实际问题,并针对片上DAC动态参数的测试,提出一种新颖的、节约成本的、行之有效的方案.该方案是根据ATE本身架构的特点以及DSP器件的成熟应用而提出的.还着力阐述了DAC测试中的一些理论和方法,如相关采样、过采样等.

著录项

来源
《实验科学与技术》 |2005年第2期|9-11|共3页
作者
熊剑;
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作者单位

电子科技大学,成都,610054;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TM930.116.9;
关键词
ATE; DAC; ADC; Coherent Sampling; Oversampling;

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