YHFT-DX测试芯片模拟验证中的片上测试模块设计

摘要

本文介绍了YHFT-DX测试芯片的模拟验证中的片上测试模块的设计方法,本文以YHFT-DX测试芯片为例来阐述如何实现片上测试模块的设计这一方法,该方法通过将指令和数据加载到L1P和L1D中,初始化Tag存储器,将存储器中的数据导出至片外,从而实现对一级指令Cache和一级数据Cache的访问.本文还设计了片外逻辑,实现了片外激励的自动加栽,以及程序运行结束后自动导出到片外,并与标准的运行结果作比较,从而判断验证是否成功.