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杨静; 杨洪星;
中国电子科技集团公司第四十六研究所,天津 300220;
碳化硅; 氮化镓; 宽禁带半导体; 器件;
机译:典型的II-VI宽禁带半导体晶体直接从组成元素中蒸发生长
机译:浮区法制备的宽禁带半导体β-Ga_2O_3单晶中杂质阳离子之间的补偿效应
机译:用于测量宽禁带半导体材料发射光谱的装置
机译:低温下几种典型光机械结构材料的杨氏模量和热膨胀系数综述
机译:阴极发光研究宽禁带半导体的光学特性
机译:含碳材料Pd(II)和Pt(II)复合材料的机械化学制备及其在几种能量输入下的Suzuki-Miyaura反应中
机译:宽禁带半导体4H-SiC中MOS结构绝缘膜的制作与评估研究
机译:III-V半导体材料制备技术的研究与开发及这些材料质量评价方法:磷化镓晶体的制备
机译:宽禁带半导体带隙电子性能测量方法和宽禁带半导体带隙电子性能测量装置
机译:具有宽禁带半导体材料的太阳能电池
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