Установка для измерения спектров излучения широкозонных полупроводниковых материалов

摘要

Разработана установка для измерения спектров излучения широкозонных полупроводниковых соединений III—нитридов и гетероструктур на их основе. Созданная система позволяет измерять временные распределения интенсивности люминесценции исследуемых структур и материалов на фиксированной длине волны с разрешением ±5ns с частотой регистрации событий до 10 MHz во временном диапазоне от единиц до сотен микросекунд, а также осуществлять построение зависимости интегральной интенсивности люминесценции от длины волны. Имеется режим прецизионных измерений.