浅谈晶体管级软错误防护技术

摘要

文章简要介绍了晶体管级的双指数电流脉冲故障注入方法和软错误率的计算方法,在此基础上提出了一种对软错误具有防护作用的DIL-SET时序单元。DIL-SET时序单元的原理是在输出端使用C单元,并在单元的内部构建双模冗余的微小结构,能够使内部节点的关键电荷得到显著提高,使得DIL-SET的抗SEU能力明显增强。DIL-SET的功能具有很好的可扩展性,并能够结合时差技术对SET进行防护。