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公开/公告号CN110691979B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-08-27
原文格式PDF
申请/专利权人 富士通株式会社;
申请/专利号CN201780091507.4
发明设计人 添田武志;
申请日2017-06-05
分类号G01R31/30(20060101);G01R31/26(20140101);
代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;
代理人金雪梅;王秀辉
地址 日本神奈川县
入库时间 2022-08-23 12:22:46
机译: 软错误检查方法,软错误检查装置及软错误检查系统
机译: 软错误检查方法,软错误检查设备和软错误检查系统
机译:开始“软错误测试服务”以重现宇宙射线引起的电子设备的“软错误”故障
机译:软错误测试服务开始重现软错误-宇宙射线引起的电子设备异常操作
机译:关于在JEITA中创建软错误测量准则的活动的报告:内存中软错误测量方法的标准化
机译:软错误:对软错误的关注是否过分夸大?
机译:用GEANT4模拟翅片场效应晶体管中的重离子软错误横截面
机译:操作系统级别的软错误检测效率研究
机译:控制流量检查与否? (对于软错误)
机译:在基于模板的计算中检测软错误。