JEITAにおけるソフトエラー測定ガイドライン作成活動報告: メモリにおけるソフトエラー測定法の標準化

摘要

半導体メモリの放射線起因ソフトエラー， (SER) の測定方法に関して、JEDEC Standard JESD89が発行された。 これはSERのテスト方法が詳細に記載されており、現在SERの問題を取り扱うための基本的なガイドラインとなりつつある。 JEITA SER-PGは、JESD89をレビューし、日本案の標準を作成することを目的に2002年4月にスタートした。