电路板ATE和IC ATE:1997年的技术突破和1998年的发展趋势——电路板ATE和IC ATE发展重点背道而驰

摘要

随着高速测试VLSI器件已成为必不可少,而片上系统时代又日渐临近,IC ATE设计人员正忙于策划新的解决方案。他们不仅着眼于技术的方方面面,也更加注重于测试经济效益。而且,由于样式奇特的器件封装使结点的接触越来越困难,因而电路板ATE公司正在瞄准互补过程改进解决方案,同时保持所需的高故障覆盖率。