微波测试夹具及其TRL校准件的设计与制作

摘要

为了满足设计功率放大器时对晶体管精确测试的要求,设计了一种工作在S波段的氮化镓晶体管专用微波测试夹具,根据TRL校准原理制作了相应的校准件来完成夹具的去嵌入.实际测试结果表明,该测试夹具及TRL校准件达到了预期的效果,仿真值与实测值一致性好,损耗误差为0.3 dB,去嵌入之后得到的夹具差损＜0.4 dB,S11和S22＜-15 dB,用该夹具测得的晶体管参数与其数据手册给出的值相吻合.