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吴昊; 黄炜;
模拟集成电路重点实验室 重庆 400060;
功率器件; 辐照效应; 抗辐射加固;
机译:辐射损伤对复合SiO2-Si3N4薄膜功率VDMOS器件的影响
机译:极端剂量X射线辐照下的辐射硬化功率VDMOSFET器件的单元结构和饱和效应
机译:使用2D FEM仿真研究机械应力对功率VDMOS器件的I-V特性的影响
机译:HSOI4CB抗辐射技术,适用于太空应用的0.8 / spl mu / m的抗辐射技术:以最小的设计风险来加固现有组件的解决方案
机译:用于汽车应用的60V VDMOS设计和制造
机译:用于高频和医疗设备的垂直双扩散金属氧化物半导体(VDMOS)功率晶体管结构的优化
机译:静态和动态条件下半导体功率器件上总电离剂量效应的研究。静态和动态条件下电离辐射总剂量对半导体功率器件的影响研究
机译:100 mrad抗辐射CmOs器件
机译:VDMOS晶体管,包括VDMOS晶体管的BCD器件以及用这种器件制造集成电路的方法
机译:VDMOS晶体管,包括VDMOS晶体管的BCD器件以及制造具有此类器件的集成电路的方法
机译:具有高集成度的mosfet器件,特别是vdmos功率,以及相关的制造工艺
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