研制阶段的成败型产品可靠性Bayes评估

摘要

研究了研制阶段的成败型产品可靠性的Bayes评估问题.针对当前可靠性评估方法中,经典统计方法无法利用历史信息,而传统Bayes方法又存在对历史信息与现场信息不加区分的缺陷,提出了研制阶段成败型产品可靠性评估模型.模型使用混合验前分布,并用历史样本与现场样本的拟合优度来确定混合分布中的继承因子,这样合理性就很容易得到解释.