电子产品研制阶段可靠性增长试验研究

摘要

在现代电子系统设备和可靠性增长工作的推动下，可靠性技术和工程实践得到了深入发展。在我国电子行业迅速发展的今天，对电子产品研制阶段进行可靠性增长试验的研究，通过施加模拟环境应力和工作应力来激发故障和暴露设计中的薄弱环节,经分析与采取纠正措施,达到产品可靠性增长的目的。 本课题在几个型号产品的可靠性增长试验项目基础上，通过试验对产品的故障信息进行统计、分析，找出设计、工艺中存在的薄弱环节，并且加以改进，使其可靠性很快得到提高，达到要求的可靠性水平。其中深入讨论和研究了可靠性增长过程及实现途径，试验应力及剖面的确定、试验结果评估、可靠性增长数学模型、试验的增长趋势分析和数据的拟合优度检验，试验实施过程的管理。解决了在保持试验条件和改进过程不变的条件下，在不同的试验情况下，利用不同的数学模型（AMSAA,AMSAA-BISE）对产品的可靠性进行了评估计算问题，结果得到可靠性指标，是符合实际的。 该课题的研究，对于加快电子产品研制开发速度、降低研制费用、提高产品可靠性具有重要作用，对开展可靠性增长工作具有重要意义。 最后对本课题的研究工作做了总结和展望。