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高成; 高然; 黄姣英; 何明瑞;
北京航空航天大学 可靠性与系统工程学院 北京 100191;
焊点; 疲劳失效; 板级仿真; 寿命预测;
机译:堆叠式芯片倒装芯片和引线键合BGA的板级焊点可靠性分析
机译:受热循环影响的边缘和角接合无铅芯片级封装组件的板级焊点可靠性
机译:金字塔形堆叠芯片BGA封装的板级焊点可靠性分析和优化
机译:压缩载荷下倒装芯片球栅阵列封装的板级焊点可靠性模型
机译:热循环下晶圆级芯片级封装(WCSP)的实验和仿真板级可靠性评估
机译:通过多层仿真分析的防区板性能与倾斜的关系
机译:使用sRs软件的无铅芯片电阻器,芯片电容器和铁氧体片式电感器的焊点可靠性预测
机译:晶圆级芯片级封装,提高封装的焊点可靠性但减小安装高度的封装及其制造方法
机译:用于芯片的晶片级封装,即动态随机存取存储器,包括粘结到纤维增强合成树脂板上的芯片以及芯片和树脂板上边缘的聚合物涂层
机译:用于晶圆级和芯片级封装的半导体元件仅通过粘合剂层将外壳连接到芯片,并且触点直接连接到板上
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