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脉冲激光沉积法制备ZnO薄膜的研究进展

         

摘要

基于氧化锌薄膜紫外光发光的实现,ZnO薄膜成为新的研究热点.综述了各种沉积条件对脉冲激光沉积(PLD)技术生长的氧化锌薄膜的微结构、光学和电学性质的影响,ZnO薄膜的厚度在超过400 nm时,呈现出了近似块状的性质.采用PLD技术,可以在适当的条件下制备具有特定功能的氧化锌薄膜.

著录项

  • 来源
    《电子元件与材料》 |2006年第5期|9-12|共4页
  • 作者单位

    山东师范大学物理与电子科学学院半导体研究所,山东,济南,250014;

    山东师范大学物理与电子科学学院半导体研究所,山东,济南,250014;

    山东师范大学物理与电子科学学院半导体研究所,山东,济南,250014;

    山东师范大学物理与电子科学学院半导体研究所,山东,济南,250014;

    山东师范大学物理与电子科学学院半导体研究所,山东,济南,250014;

    山东师范大学物理与电子科学学院半导体研究所,山东,济南,250014;

    山东师范大学物理与电子科学学院半导体研究所,山东,济南,250014;

    山东师范大学物理与电子科学学院半导体研究所,山东,济南,250014;

    山东师范大学物理与电子科学学院半导体研究所,山东,济南,250014;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 半导体技术;
  • 关键词

    半导体技术; 脉冲激光沉积; 综述; 氧化锌薄膜; 衬底温度; 氧分压;

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