LabVIEW与Open Windows示波器 开创测试测量新理念——“2004设计、验证及测试论坛”侧记

摘要

工欲善其事，必先利其器，对于电子设计工程师和检修技术人员来说，一套好的测量分析工具能起到事半功倍的效果。8月18日，Tektronix(泰克）公司和National Instruments(美国国家仪器简称NI）公司共同在西安举办了“2004设计、验证及测试论坛”，这是此次巡回论坛中国大陆的第五站，200多名电子工程师和高校师生参加了此次论坛，会上来自泰克和NI的工程师，分别就新型Open Windows示波器和LabVIEW7.1功能进行了演讲，并现场结合两种产品的应用作了演示。